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上海楹点检测设备有限公司提供的无损检测仪器设备包括:超声检测(UT);射线检测(RT);渗透检测(PT);磁粉检测(MT);涡流检测(ET);化学用品(CH)、超声波相控阵、超声波测厚仪、超声导波、超声TOFD探伤仪、超声波探头、涡流探伤仪、涡流探头、涡流阵列、磁粉探伤机。代理以下品牌:汕超、美国GE(德国KK)、奥林巴斯(Olympus NDT)、美国磁通(Magnaflux)、DAKOTA等;

    AWG4012-128M任意函数/波形发生器
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    AWG4012-128M任意函数/波形发生器

    更新时间:2024-11-16   浏览数:132
    所属行业:仪器仪表 电子测量仪器 信号发生器/信号源模块
    发货地址:上海市宝山区  
    产品规格:AWG4012-128M
    产品数量:0.00台
    包装说明:原厂包装
    价格:面议
    产品规格AWG4012-128M包装说明原厂包装

    AWG4012-128M任意函数/波形发生器 

    AWG4000系列任意函数/波形发生器 

    任意函数/波形/码型/串行信号发生器

    通道数:2/4/8个,频率:较高300MHz订货信息:



    AWG4012-2M             300MHz任意函数/波形发生器,2M存储深度,双通道



    AWG4012-64M           300MHz任意函数/波形发生器,64M存储深度,双通道



    AWG4012-128M         300MHz任意函数/波形发生器,128M存储深度,双通道



    AWG4014-2M             300MHz任意函数/波形发生器,2M存储深度,四通道



    AWG4014-64M           300MHz任意函数/波形发生器,64M存储深度,四通道



    AWG4014-128M         300MHz任意函数/波形发生器,128M存储深度,四通道



    AWG4018-2M             300MHz任意函数/波形发生器,2M存储深度,八通道



    AWG4018-64M           300MHz任意函数/波形发生器,64M存储深度,八通道



    AWG4018-128M         300MHz任意函数/波形发生器,128M存储深度,八通道




    AWG401X选件:



    AWG4012-HV             高电压输出选件 (12Vpp@50Ω) 



    AWG4014-HV             高电压输出选件 (12Vpp@50Ω) 



    AWG4018-HV             高电压输出选件 (12Vpp@50Ω) 



    AWG4012-PAT           串行信号发生器选件,双通道



    AWG4014-PAT           串行信号发生器选件,四通道



    AWG4018-PAT           串行信号发生器选件,八通道 



    AWG4012-WAR          3年保修



    AWG4014-WAR          3年保修 



    AWG4018-WAR          3年保修



    AWG4010-DIG8          8个数字通道选件(包含Mini SAS电缆)



    AT-LVDS-SMA8           Mini SAS HD至 SMA转换头 (8路LVDS输出)



    AT-DTTL8                  8位LVDS至LVTTL转换头




    Active Technologies公司的ArbRider AWG4000系列是一款多功能信号发生器,它将四种功能组合在一个仪器中,包括函数发生器、任意波形发生器、数字信号发生器和串行数据信号发生器。这四种不同的功能得益于用于扩展硬件功能而采用的两种不同的技术:AFG模式下先进的DDS技术和AWG模式下的可变时钟、任意波技术。


    AFG模式允许用户即时更改所有脉冲参数,以保持波形形状,并且可以一目了然地生成脉冲。


    AWG模式允许用户创建模拟和数字模式的复杂波形方案,将它们插入序列中,应用循环,跳转和条件分支。


    串行数据模式模式被设计成产生二进制信息流。SPG具有多达8通道的数据流,内置的PRBS序列,调制特性,过渡整形,以及强大的模拟的灵活 性,是较具挑战性的应用的**工具。



    主要特点:


    模拟通道:2/4/8个


    输出带宽:较高300MHz


    DAC位数:14位


    采样率:较高1.2Gs/s, 任意可调


    上升/下降时间:<1.1ns


    输出电压:12Vpp@50Ω


    功率输出:~20V@400mA (5Ω)


    存储深度:较大128Mpts/通道


    数字通道:较多32个通道,1.15Gbps


    串行码型产生器,较高300Mbps, 2/3/4 Level调制信号,抖动注入 (PAT选件)


    用户接口:Expert Rider可用于AWG模式,Simple Rider可用于AFG模式


    AWG4012可以**的替换81150A,AWG4022可以替换81160A

    主要技术指标:

    型号

    模拟通道

    数字通道

    较大频率

    垂直分辨率

    采样率

    上升/下降时间(20-80%)

    振幅

    记录长度

    较小脉宽


    AWG4012

    2

       8          (可选)

    300MHz

    14 

    1S/s - 1.2 Gs/s

    <700ps@1Vpp

    6Vpp@50Ω

    2-128M

    2.5 ns


    12Vpp@50Ω(HV选件)


    AWG4014

    4

    16       (可选)

    300MHz

    14 

    1S/.2 Gs/s

    <700ps@1Vpp

    6Vpp@50Ω

    2-128M

    2.5 ns


    12Vpp@50Ω(HV选件)


    AWG4018

    8

    32       (可选)

    300MHz

    14 

    1S/.2 Gs/s

    <700ps@1Vpp

    6Vpp@50Ω

    2-128M

    2.5 ns


    12Vpp@50Ω(HV选件)


    AWG4022

    4

    16/32    (可选)

    600MHz   (1GHz选件)

    14 

    100S/s-2.5 Gs/s

    <350 ps@1Vpp

    5Vpp@50Ω

    1-64M

    1 ns





    主要应用:

    应用1:航空航天和
    由雷达或声纳系统驱动的电子战信号与AWG4000系列信号发生器**匹配。AWG4000系列AWG可用于无线电应用或其他I/Q信号调制的数字调制系统。
    此外,可以很容易地产生一些脉冲,如脉冲电子束或X射线源,闪光X射线摄影,照明脉冲模拟器,高功率微波调制器。

    亮点



    产生具有优良伪性能的雷达测试信号



    创建电子战需要的复杂信号:借助多达16384个序列器以及高级序列器/不断的反转。



    高达12Vpp(50Ω);±6V硬件偏移



    快速上升时间脉冲:高达350ps的上升/下降时间



    应用2:汽车电子,IOT和IND.4.0

    今天的汽车包括许多高度复杂的电子控制单元(ECU)非常敏感的电子元件。14位垂直分辨率结合高采样率和12Vpp(高阻抗负载24 Vpp)输出幅度范围。使AWG4000系列仪器成为成功应对汽车测试新挑战的的工具。

    无线技术正在推动下一场工业,将生产力和效率提升到新的水平。制造业正变得更加智能、灵活和动态。因此,无线连接在业务和任务上变得更加关键,导致对可靠性、延迟和安全性的要求非常严格。

    针对这些应用场景后,AWG4000系列任意波形发生器在无线设备测试或工业物联网4.0应用中模拟复杂的射频IQ调制信号变成了可能。


    亮点:


    CAN, CAN- fd, LIN, Flexray, send和故障排除


    100BASE-T1, 1000BASE-T1,宽带,抗干扰信号和噪声


    汽车用电气和电子元件在低电压下的功率完整性试验


    传感器信号的生成:用高清晰度示波器采集理想信号后的或真实信号的生成。


    MOSFET栅驱动幅值信号,用于MOSFET的特性描述和优化


    电气标准高达24v


    MEMS传感器测试:高达24v - 2.5ns

    应用3:半导体测试和研究中心研究
    半导体测试及研究需要以一种精确、详细、可重复的控制方式对信号加幅和定时变化缺陷进行。物理、电子、化学、力学和其他学科可以从**级直观的用户界面和灵活的硬件中受益。
    当今较具挑战性的测试,信号设置也可以在几分钟内解决。
    当今的IC、元器件、电子电路和传感器的要求都高度可靠,以扩展许多变量的工作范围。所以需要模拟包含噪音或失真的复杂信号可能成为一种很好的方法来帮助半导体测试工程师完成元器件可靠性测试。

    亮点:



    时钟发生器可以为元器件**出工作能力范围限制或者耐压测试产生时钟信号



    使用低阻抗特性(5 Ω输出阻抗)产生IC上电序列



    外加噪声和调制失真的信号



    **计算



    产生具有详细波形的调制信号和驱动激光二极管信号



    生成/回放现实的信号,提前用示波器获得并导入AWG4000系列发生器



    在测量开关参数并评估MOSFET和IGBT功率器件的性能时通过几秒钟内进行双脉冲测试



    使用SPG选项模拟长PRBS序列



    通过SPG选项产生多层次和多边缘脉冲长波形




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